檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "陳省隆".ccommittee (精準) and ckeyword.raw="內建自我測試"
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本論文係有關雙埠SRAM內建自我測試演算法驗證系統之設計與實現,相關研究工作包含四大部分: 第一部份為探討雙埠SRAM內建自我測試演算法驗證系統之結構,在分析其待測電路特性並考量驗證系統的故障植入與…
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本論文是關於FPGA-based邏輯陣列內建自我測試電路驗證系統之設計與實現,相關研究工作包含四大部分: 第一部份為探討邏輯陣列內建自我測試電路驗證系統之結構,在分析內建自我測試系統、待測電路與故…